Новый метод позволит обнаруживать мельчайшие дефекты в материалах
2024-06-18 23:13:31
Ученые разработали новый метод визуализации микроструктур в наномасштабе с использованием рентгеновских микроскопов. Этот подход позволяет обнаруживать малейшие трещины и включения, которые ранее были трудны для визуализации. Особенно в материаловедении и контроле качества такое развитие будет иметь важное значение.
Подробнее https://www.ferra.ru/news/techlife/novyi-metod-pozvolit-ob...