Ученые научились видеть дефекты в полупроводниках на уровне отдельных атомов
2024-07-04 19:59:36
Физики из Университета штата Мичиган разработали новый метод анализа материалов, используемый в современных электронных устройствах. Новая методика, описанная в журнале Nature Photonics, объединяет микроскопию высокого разрешения с ультрабыстрыми лазерами. Это позволяет ученым с высокой точностью обнаруживать чужеродные атомы в полупроводниках.
Подробнее https://www.ferra.ru/news/techlife/uchenye-nauchilis-videt-defe...